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Microanalyse X par sonde électronique : Microscopie électronique à balayage = Electron microprobe analysis: SEMRUSTE, J.Redécouvrez les techniques d'analyse et de caractérisation chimique en métallurgie. Colloque. 1996, pp 1-68Conference Paper

L'apport de la microanalyse aux études de matériaux = Contribution of microanalysis to studies in materiel technologyBILLARD, P; BLAT, M; GUTTMANN, M et al.Epure (Paris). 1990, Num 26, pp 41-56, issn 0758-489XArticle

Non-flat surfaces analysis by glow discharge spectrometry : Application to Zircaloy 4 assembly cladding tubesRUSTE, J; SCHWOEHRER, F.Fresenius' journal of analytical chemistry. 1996, Vol 355, Num 7-8, pp 861-862, issn 0937-0633Conference Paper

L'homme des matériaux change d'ère = The specialist of materials changes eraCLEMENDOT, F; MASSOUD, J;-P; RUSTE, J et al.Epure (Paris). 1992, Num 34, pp 33-46, issn 0758-489XArticle

La simulation numérique multi-échelles a-t-elle un avenir? = Has the multi-scales numerical simulation a future?ROUSSELIER, G; GEYER, P; RUSTE, J et al.Epure (Paris). 1998, Num 60, pp 121-134, issn 0758-489XArticle

La simulation numérique des matériaux à l'échelle atomique = The numerical simulation of material at the atomic scaleDOMAIN, C; JUMEL, S; RUSTE, -J et al.Calculateurs parallèles (Besançon). 1999, Vol 11, Num 3, pp 295-315, issn 1260-3198Article